開蓋檢測是什么意思？

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開蓋檢測是什么意思？ 

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  • 匿名

    開蓋檢測 （Decapsulation）


    描述：開蓋測試又稱DECAP，屬于破壞性實驗，是使用化學試劑方法或者激光蝕刻將芯片外部的封裝殼體去掉，用以檢查內部晶粒表面的原廠標識、版圖布局、工藝缺陷等，開蓋測試是一種主要的真?zhèn)螜z測手段，能確定芯片的真實性、完整性。


    優(yōu)勢：創(chuàng)芯在線檢測擁有龐大的原裝品數據庫，能夠快速比對真假貨，多種開蓋方式，完美實現特殊封裝材料開蓋等。


    開蓋測試圖片:


    370.png

    晶元整體

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    晶元整體

    372.png

    廠商LOGO


    373.png

    砷化鎵


    開蓋測試設備圖片：

    374.png

    2025年04月07日 15:49
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